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毛細(xì)管聚焦X熒光鍍層測(cè)厚儀、連接器測(cè)厚儀 此系列產(chǎn)品可測(cè)量金屬準(zhǔn)直無(wú)法測(cè)量的微區(qū)，多導(dǎo)毛細(xì)聚焦管光學(xué)元件的光束尺寸可小至5μm，因此可以測(cè)量微電子設(shè)備、高級(jí)電路板、連接器、引腳框架和晶片的超微小區(qū)域。 可以測(cè)量納米級(jí)的鍍層，毛細(xì)聚焦管能將更多的X射線輸出聚焦到樣品上，可以敏感的反應(yīng)鍍層納米級(jí)厚度變化。其焦斑小區(qū)域上的X射線強(qiáng)度比金屬準(zhǔn)直系統(tǒng)高出幾個(gè)數(shù)量級(jí)。 可以實(shí)現(xiàn)更高的測(cè)試精度

XTU系列五金電鍍測(cè)厚儀測(cè)厚儀雖然結(jié)構(gòu)緊湊，但是都有大容量的開槽設(shè)計(jì)樣品腔，即使超過(guò)樣品腔尺寸的工件也可以測(cè)試。 搭配微聚焦射線管和*光路設(shè)計(jì)，以及變焦算法裝置，可測(cè)試極微小和異形樣品。 檢測(cè)78種元素鍍層·0.005um檢出限·小測(cè)量面積0.002mm2·深凹槽可達(dá)90mm。 外置的高精密微型滑軌，可以快速控制樣品移動(dòng).

X射線熒光膜厚儀雖然結(jié)構(gòu)緊湊，但是都有大容量的開槽設(shè)計(jì)樣品腔，即使超過(guò)樣品腔尺寸的工件也可以測(cè)試。 搭配微聚焦射線管和*光路設(shè)計(jì)，以及變焦算法裝置，可測(cè)試極微小和異形樣品。 檢測(cè)78種元素鍍層·0.005um檢出限·小測(cè)量面積0.002mm2·深凹槽可達(dá)90mm。 外置的高精密微型滑軌，可以快速控制樣品移動(dòng).

柔性線路板X射線膜厚儀 XTU系列測(cè)厚儀雖然結(jié)構(gòu)緊湊，但是都有大容量的開槽設(shè)計(jì)樣品腔，即使超過(guò)樣品腔尺寸的工件也可以測(cè)試。 搭配微聚焦射線管和*光路設(shè)計(jì)，以及變焦算法裝置，可測(cè)試極微小和異形樣品。 檢測(cè)78種元素鍍層·0.005um檢出限·小測(cè)量面積0.002mm2·深凹槽可達(dá)90mm。 外置的高精密微型滑軌，可以快速控制樣品移動(dòng)，移動(dòng)精度0.005mm

XTD-200釹鐵硼磁鐵電鍍層X射線分析儀 1.*EFP算法：多層多元素、各種元素及有機(jī)物，甚至有同種元素在不同層也可測(cè)量。 2.上照式設(shè)計(jì)：實(shí)現(xiàn)可對(duì)超大工件進(jìn)行快、準(zhǔn)、穩(wěn)高效率測(cè)量。 3.自動(dòng)對(duì)焦：高低大小樣品可快速清晰對(duì)焦。 4.變焦裝置算法：可對(duì)大90mm深度的凹槽高低落差件直接檢測(cè)。 5.小面積測(cè)量：小測(cè)量面積0.002mm2

鍍層ROHS分析一體機(jī)性能優(yōu)勢(shì)：1.微小樣品檢測(cè)：最小測(cè)量面積0.03mm²（加長(zhǎng)測(cè)量時(shí)間可小至0.01mm²）2.變焦裝置算法：可改變測(cè)量距離測(cè)量凹凸異形樣品，變焦距離可達(dá)0-30mm3.*EFP算法：Li(3)-U(92)元素的涂鍍層，多層多元 素，甚至有同種元素在不同層也可精準(zhǔn)測(cè)量。 4.*解譜技術(shù)：減少能量相近元素的干擾，降低檢出限。 5.高性能探測(cè)器：S