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X射線檢測(cè)器又稱探測(cè)器，是種能量轉(zhuǎn)換器，能對(duì)光子進(jìn)行計(jì)數(shù)。在與光電子作用時(shí)，它可以儲(chǔ)存每次入射光子的全部能量。光子流越弱，檢測(cè)器工作的精度越高。目前常用的Ⅹ射線檢測(cè)器有氣體能量轉(zhuǎn)化器、半導(dǎo)體能量轉(zhuǎn)換器和閃爍計(jì)數(shù)器。一、氣體能量轉(zhuǎn)化器氣體能量轉(zhuǎn)化器也稱充氣型正比計(jì)數(shù)器（gasproportioncounter，PC），分為氣流型和封閉型兩種，氣流型適用于輕元素的檢測(cè)，而封閉型常用于高原子序數(shù)的元素，探測(cè)波長(zhǎng)較長(zhǎng)。以波長(zhǎng)色散譜儀為例，氣流型和封閉型充Xe氣的正比計(jì)數(shù)管常常串聯(lián)使用...

分光系統(tǒng)是波長(zhǎng)色散型X射線熒光光譜儀的重要部件，它由分光晶體及傳動(dòng)機(jī)構(gòu)、限高光欄、準(zhǔn)直鏡和衰減器等器件組成。其中主要的器件是晶體分光器，它的作用是通過晶體衍射把不同波長(zhǎng)的X射線分開。一、分光晶體分光晶體是晶體分光系統(tǒng)的核心部件，為了獲得較好的分析效果，晶體的選擇是十分重要的。分光晶體相當(dāng)于光學(xué)光譜儀中棱鏡和光柵，X射線區(qū)域之所以不能使用棱鏡或光柵作為的分光單元，是因?yàn)閄射線的波長(zhǎng)短、能量大、穿透力強(qiáng)、幾乎不發(fā)生折射。晶體分光的原理是根據(jù)布拉格衍射定律2dsinθ=mλ，當(dāng)波長(zhǎng)...

電鍍鍍層膜厚分析儀是X射線聚光系統(tǒng)與X射線源相結(jié)合，產(chǎn)生束斑高強(qiáng)度的X射線束。所以可以對(duì)以往由于X射線照射強(qiáng)度不足而導(dǎo)致無法得到理想精度的導(dǎo)線架、接插頭、柔性線路板等微小零件及薄膜進(jìn)行測(cè)量。同時(shí)，采用了高計(jì)數(shù)率、高分辨率的半導(dǎo)體檢測(cè)器（無需液氮），在測(cè)量鍍膜厚度的同時(shí)，對(duì)于限制的有害元素的分析測(cè)量也十分有效。電鍍鍍層膜厚分析儀產(chǎn)品的優(yōu)勢(shì)表現(xiàn)：1.鍍層檢測(cè)，至多鍍層檢測(cè)可達(dá)5層，精度及穩(wěn)定性高。2.平臺(tái)尺寸：樣品移動(dòng)距離可大。3.激光定位和自動(dòng)多點(diǎn)測(cè)量功能。4.可檢測(cè)固體、粉末...

為了使被測(cè)物質(zhì)產(chǎn)生特征熒光X射線（X光熒光），需要用能量較高的光子源來激發(fā)。光子源有X射線、低能量的γ射線以及高能量的加速電子或離子。對(duì)于一般的X射線熒光光譜儀，常用的激發(fā)方法有如下幾種：一、用放射性同位素源激發(fā)源激發(fā)是將少量的放射性同位素，如55Fe（鐵）、109Cd（鎘）等物質(zhì)固封在密封的留有小孔的鉛罐中，連續(xù)發(fā)射出低能γ射線，經(jīng)準(zhǔn)直后照射到被測(cè)物質(zhì)上產(chǎn)生X熒光。同位素源發(fā)出的X射線強(qiáng)度是非常穩(wěn)定的，但是X射線強(qiáng)度小，能力分布不可調(diào)。優(yōu)點(diǎn)：?jiǎn)紊院?、信噪比高、體積小、重量...

一、X射線熒光光譜定量分析中的不確定度來源在X射線熒光光譜定量分析中，導(dǎo)致分析結(jié)果具有一定不確定度的因素很多。多數(shù)情況下，很難直接計(jì)算出每一種因素所引起的不確定度分量。但在實(shí)際分析過程中，所有不確定度分量中，往往其中的某個(gè)或者某幾個(gè)分量就決定了合成不確定度的大小，因此，對(duì)于這幾個(gè)不確定度分量必須仔細(xì)分析其來源，并正確估計(jì)其對(duì)合成標(biāo)準(zhǔn)不確定度的貢獻(xiàn)。在X射線熒光光譜定量分析過程中，每一個(gè)步驟都有可能引起不確定度的因素，主要有以下幾個(gè)方面：1)取樣取樣必需具有代表性。2)樣品處理...